製造・検査装置
高周波対応テストソケット
製造・検査装置
高周波対応テストソケット
デバイスの高周波テストに対応した検査用テストソケットです。ジョンスティック社は高周波デバイス検査用コンタクト・ピンにおいて、世界的な実績を誇ります。
メーカー情報
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メーカーサイト |
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新リリースされたROL™シリーズに採用されているROL™Technologyは、従来品のS字コンタクトを大きく改良し、高い性能と信頼性を実現しました。この機構をセンター・グランドに活かすことも可能で、お客様の検査仕様に合わせたご提案が可能です。
- PB Free
- 鉛フリーに対応したデバイスやテストボードは、コンタクト部分が大変デリケートです。ROL™シリーズは材質に応じて、接触負荷の低減、特性の最適化、またメンテナンス性の向上を提案いたします。
PAD ROL™シリーズ
QFN, DFNなどに対応
QFN、DFNなどのフラット（ノンリード）パッケージ・デバイスに対応した、高周波対応テストソケットです。コンタクト・ピンの材質（Eco™-1/Gold Plating）、Electrical Length（コンタクト・ピン有効長）の異なるタイプ（1mm/2mm）をご用意し、お客様の環境に最適なソリューションを提案いたします。
Leaded ROL™シリーズ
QFP, SOPなどに対応
QFP、SOPなどのリードパッケージ・デバイスに対応した、高周波対応テストソケットです。コンタクト・ピンの材質（Eco™-1/Gold Plating）、Electrical Length（コンタクト・ピン有効長）が異なるタイプ（2mm/4mm）を用意し、お客様の環境に最適なソリューションを提案いたします。
Edge400aシリーズ
SDRAM, DDR2, DDR3, FB-DIMMなどに対応
SDRAM、DDR2、DDR3、FB-DIMMなどに対応したメモリーモジュール用テストソケットです。ROL™シリーズと同様、特殊コンタクト・ピンにより優れた耐久性とコンタクト性能を実現しました。
| カタログ | サイズ | ダウンロード |
|---|---|---|
| Pad ROL100A (2009/3/18) | 266KB | ダウンロード 266KB |
| Pad ROL200 (2008/7/31) | 250KB | ダウンロード 250KB |
| Leaded ROL200 (2008/7/31) | 306KB | ダウンロード 306KB |
| Leaded ROL400 (2008/7/31) | 235KB | ダウンロード 235KB |
| EDGE400a (2008/7/31) | 265KB | ダウンロード 265KB |
| Pad ROL200 メンテナンス／インスペクションガイド (2008/10/29) | 4.861MB | ダウンロード 4.861MB |
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