製造・検査装置

アルファクス社製LD検査分類機

製造・検査装置

アルファクス社製LD検査分類機

高品質、高精度、高速安定性を備えたLD Chip検査分類機
アルファクス社製LD検査分類機
  • 世界中のユーザーに認められた業界標準機です。
  • チップ状態のLDをエキスパンドシートで供給し、自動でローディングを実行。測定から分類まで高速測定を全自動で行ないます。
  • 測定項目は、I-L、FFP、λ特性を標準として、各種特殊測定(高周波重畳、バック光測定など)にも対応します。
  • LDチップの有無・位置を機構部のチップ停止位置(最大8カ所)においてカメラで監視・補正します。
  • +25~90℃の範囲で、高温/常温(2種類)の温度条件測定が可能です。
  • 対応品種および温度設定はタッチパネルで変更可能です。
  • メンテナンス用カメラ搭載で保守作業も簡単に、リファレンス用LDで装置の異常を簡単に検知できます。
測定素子
チップサイズ 200~1000μm
チップ長さ 200~2000μm(段取り替えが必要な場合があります)
チップ厚み 100±20μm
供給、収納トレー
供給 φ150mmリング
収納 φ150mmリング、ゲルパック
測定項目
順電流-光出力特性 If-Po特性
順電流-順電圧特性 If-Vf特性
LDの逆電圧、電流特性 IrLD特性
FFP特性 水平、垂直
波長特性 λ特性
  • 2.5G[Hz] pulse重畳可能
測定タクトタイム
(I-L,λ,FFP水平,FFP垂直 1回測定時) 4.0 Sec/個以内
電気、光学仕様
順方向電圧 0~4.00V
印加電流 (CW) 0~1200mA(3レンジ)
(PULSE) 0~1200mA(3レンジ、10μSec~)
逆方向電流 0~200μA
逆方向印加電圧 0~40V
光出力 0~1200mW
λ範囲 (長波) 900~1700nm(AQ6370B:YOKOGAWA製)
温度制御
使用範囲 +20~95℃
設定単位 0.1℃
精度 ±2℃
制御方式 ペルチェ方式
温度設定 タッチパネルにて温度設定
温度表示 タッチパネル上にて表示
外形寸法・重量
装置本体 W1000 x D15500 x H2392約950kg
パソコンラック W638 x D550 x H1649約10kg
吸気圧 5 (kg/cm2)ドライエア 流量50Nリットル/min
  • ※ 測定部は要望に応じて選択できます。
  • ※ 製品の外観・仕様等は予告なく変更することがあります。

その他製造・検査設備/関連部品

製造・検査設備/関連部品に
関するお問い合わせ

製品に関するご質問・ご商談等お問い合わせ

お問い合わせフォーム

お電話でのお問い合わせ

03-6412-6032