製造・検査装置

アルファクス社製LD温度特性検査機

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アルファクス社製LD温度特性検査機

旧ベルコア（現テレコルディア）規格に基づいた高性能LD温度特性検査機
アルファクス社製LD温度特性検査機
  • 世界中のユーザーに認められた業界標準機です。
  • 光通信用機器の旧ベルコア（現テレコルディア）規格を満たす、-40℃～+85℃の特性検査を効率よく行ないます。
  • 通信用LDだけではなく記録用LD（350nm～900nm）用としても、多数の納入実績があります。
  • ワークホルダーを変更することで各種素子形状に対応可能です。
  • 温度コントロール方式は、水冷ぺルチェ制御を採用し、-40～+95℃の範囲で高精度に制御します。
  • LDの電気的、光学的諸特性（I-L、I-V、FFP、λ）を自動測定します。
  • 160素子を同時に昇降温し温度安定時間のロスを最小限にしています。
  • 測定時間は、3温度（+25℃⇒+95℃⇒-40℃⇒常温）×I-L/λ（W/O-FFP）で120分以内です。
測定項目 ( )内は表記
順電流(If)-光出力(Po)特性 ,順電流(If)-順電圧特性(Vf) ,光出力(Po)-モニタ電流特性(Im) ,逆特性(IrLD)(VrLD)(IrPD) ,波長測定(λ) ,FFP特性(FFPH) ,(FFPV)※1
項目範囲
順電流(If)CW 0 ～ ±2000mA
PULSE(長波長) 0 ～ ±2000mA (10μSec～)
PULSE(短波長) 0 ～ ±2000mA (500nSec～)
順電圧(Vf) 0 ～ ±10V
光出力(Po) 0 ～ 2000mW
モニタ電流(Im) 0 ～ 30mA
LD逆電流(IrLD) 0 ～ ±200μA
LD逆電流(IrLD) 印加電圧 0 ～ ±30V
LD逆電圧(VrLD) 0 ～ ±30V
LD逆電圧(VrLD) 印加電流 0 ～ ±200μA
PD逆電流(IrPD) 0 ～ ±200nA
PD逆電流(IrPD) 印加電流 0 ～ ±30V
波長測定(λ)  
FFP測定(FFPH)(FFPV)※1
CW,及びPULSE(繰り返し周期200μs以下)		 -45°～ +45°(分解能:0.1°)
測定タクト
下記測定にて120分以内(160素子)
3温度(+25℃⇒+95℃⇒-40℃⇒常温)×I-L/λ※2
波長測定範囲
短波長用 350nm ～ 1000nm
長波長用 900nm ～ 1700nm
温度制御
使用温度 -40℃～+95℃
設定単位 0.1℃
制御精度 ±1℃
制御方式 ペルチェ素子(吸熱量250W)水冷式
結露防止 N2ガス または ドライエア
温度モニタ LD素子近傍冷熱プレート2ヶ所
温度設定 RS-232Cによる自動設定
外形寸法・重量(寸法単位:mm)
装置本体 (H)1080x(W)1120x(D)900・約350kg
低温チラー (H)1260x(W)1050x(D)690・約210kg
高温チラー (H)960x(W)630x(D)580・約120kg
パソコン/ラック (H)1510x(W)600x(D)670・約10kg
電源
装置本体+パソコン AC100V,10A,50/60Hz
低温チラー 3相AC200V,20A,50/60Hz
高温チラー AC100V,10A,50/60Hz

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