インサーキットテスター(ICT)


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最高品質のインサーキットテストを実現するハイ・グレード・テスター

デジタルシステムには、従来のUltraピンより、さらに電圧精度を追求した Ultra II ピンボードを採用。デバイスの動作電圧の低電圧化に対応し、SafeTest™ 機能も充実。 従来のマルチプレクス・システムのほか、全ピン・リアルピンのシステムを新たにラインナップに加え、あらゆるお客様のテストニーズに対応したテスターをライ ンアップしています。

メーカー情報

TERADYNE

メーカーサイト:
http://www.teradyne.com/別ウィンドウで開きます。

治具(Fixture)&プログラミングサービス

米国テラダイン(旧ジェンラッド)社製インサーキットテスター(GR228X, TS8X, TS12X, Viper)のテストフィクスチャーを万全の体制でフルサポートいたします。 エレクトロニクス製品を支えるプリント基板ではインサーキットテストが製品の信頼性を上げる方法の一つです。あらゆるニーズにご対応するには、オリジナリティーある設計、確立された製造工程、経験豊かなプログラム開発が必要と考えます。
高密度実装、薄板基板、BGA/CSP実装・・・基板へのストレスは最大のネックになります。 信頼性・高品質な基板テストを行なって頂くためのソリューションをご提案させて頂きます。 海外進出日系企業を初めとする海外企業への販売、サポートも行なっておりますので、先ずはお問い合わせ下さい。
(納入実績:マレーシア、フィリピン、シンガポール、中国、フランス、アメリカ)

治具&プログラム開発工程

サポート体制

回路検討
インサーキットテストを行なうにあたり、テストパッドの配置や、容易にテストを行なうためのご提案
ライブラリー開発
テラダイン インサーキットテスターの高機能を有効に利用して頂く事を念頭におき、FPGA, ASICなどのメーカーでサポートされていないライブラリー開発を短時間・低コストで、ご提供させて頂きます。
ファンクション検査のご提案
アナログ測定器を用いて、周波数測定、パルス幅測定、パルス数カウント、アンプ回路のゲイン確認、アナログICの電圧変化測定等々
1年目の無償サポート対応(消耗品は除く)

治具基本キット

テスターの機能を最大限活用し、信頼性、検査効率を考慮したインサーキットテストを行なって頂くためのご提案をさせて頂きます。 特殊仕様に敏速に応じられる加工設備、製造体制で、お客様の立場で設計し、容易なピン交換やメンテナンスをご提供します。
検査対象基板のサイズに応じて、使用出来る基本治具キットが異なります。治具サイズ表をご用意させて頂きましたので、カタログより「治具サイズ表」を、ダウンロードしてご参照下さい。