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インサーキットテスター

近年電子機器の小型化、多機能化、軽量化に伴って被試験基板の高密度化、ICの狭ピッチ化、省エネルギー化、LSIの多ピン化、デジタル・アナログ混在ICの搭載などテクノロジの革新が急速に進んでいます。
一方、検査現場では製品の立ち上げ早期化、低コスト化が求められています。
TestStation™ は、これらのテストニーズに対して様々なラインナップを構成しております。従来のファンクション検査は個別の検査装置を一から設計したり、プレス治具の中にONE CHIP CPUや計測用ボード等を入れて検査を行って参りました。この製品は、汎用部分と個別で作成する部分を別ける事で無駄な費用が発生しないようになっています。

最高品質のインサーキットテストを実現するハイ・グレード・テスター

デジタルシステムには、従来のUltraピンより、さらに電圧精度を追求した Ultra II ピンボードを採用。デバイスの動作電圧の低電圧化に対応し、SafeTest™ 機能も充実。 従来のマルチプレクス・システムの他、全ピン・リアルピンのシステムを新たにラインナップに加え、あらゆるお客様のテストニーズに対応したテスターをラインアップ致しております。

TestStation and TestStation LX

「インサーキットテスター」フラグシップモデル

TestStation LX

TestStation Standard and Large Receiver
ハードウェア TS121 TS124 TSLX 124L
ピンボードタイプ ULTRAII 121 ULTRAII 124 ULTRAII 124L
最大枚数 30 30 30
最大リアルピン数 3840 960 1920
最大ピン数 3840 3840 7680
マルチプレックス比 1:1 2:8 2:8

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TestStation LH

「インサーキットテスター」省スペースモデル

TestStation LH

TestStation Large/Halfsize Receiver
ハードウェア TSLH 121 TSLH 124 TSLH 124L
ピンボードタイプ ULTRAII 121 ULTRAII 124 ULTRAII 124L
最大枚数 16 16 16
最大リアルピン数 2048 512 1024
最大ピン数 2048 2048 4096
マルチプレックス比 1:1 2:8 2:8

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TS/TSLX 日本語カタログ (2006/3/6) 851KB pdfファイルを開きます。
TSLH 日本語カタログ (2006/3/6) 955KB pdfファイルを開きます。
TSシリーズ日本語カタログ (2008/2/29) 1090KB pdfファイルを開きます。
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