バウンダリスキャンソリューション

IEEE-1149.1に準拠したバウンダリスキャンデバイスのデジタルインサーキットライブラリを生成するツールです。このソフトウェアは、デバイスのバウンダリスキャン情報が書かれたBSDL（Boundary-Scan Description Language）ファイルをDTS（Digital Test Source）モデルに自動変換します。

【特徴】

• デバイスの複雑な動作を理解する必要がない
• ライブラリ作成期間が大幅に短縮できる
• 不良検出率が高い
• どのピンが不良か正確に診断できる

基板上のバウンダリスキャンデバイスの接続に対して、デジタルファンクション的に複数個のデバイスを一度にテストします。

主なテスト項目

HARDWARE テスト

スキャンパス及び各レジスタのチェック

OPEN テスト

各BSデバイスの外端ノードのオープンチェック

INTERACTION テスト

ピュアBS信号と非BS信号間のオープン、ショートテスト

INTER CONNECTION テスト

ピュアBS信号のオープン、ショートテスト

ID CODE/USER CODE テスト

デバイス固有のレジスタのテスト（バージョン確認、誤実装）

VIRTUAL PIN

BSセルから外部ICのドライブ／センスを行う

テラダイン社のインサーキットテスターをお持ちでない場合でもご安心下さい。お好みのバンダリスキャンツールと、必要なテストを選び、測定機器、その他ハードウェアを組み合わせて、高品質でコストパフォーマンスの高い検査システムの構築が可能です。

• プレス治具による、コネクター接続の煩雑な操作を解消
• UUT電源の自動ON/OFF
• 簡易ショート試験から、アナログインサーキットテスト（受動部品検査）まで
• 各種ファンクションテストが可能
• GUI環境を利用したテスト環境を実現
• その他、ご希望に沿った形でご提案させて頂きます。